FS-2000植物冠層分析儀的詳細資料：

FS-2000植物冠層分析儀

▲ 非破壞性(xing)地測定冠層結構。

▲ 可以測(ce)量冠層(ceng)內外的光合有效輻(fu)射(PAR)。

▲ 手持式萬向接頭(tou)自動(dong)水(shui)平調整探(tan)頭(tou)，無需(xu)三角架。

▲ 圖像分析軟件可以任(ren)意定義圖像分析區域。

結構特點

專門為(wei)植物冠(guan)(guan)層(ceng)(ceng)結構(gou)測(ce)(ce)(ce)量(liang)設計的小(xiao)型魚眼(yan)攝像鏡(jing)頭(tou)(tou)安裝在(zai)萬向(xiang)(xiang)平(ping)衡接頭(tou)(tou)上(shang)，可(ke)(ke)自動保持鏡(jing)頭(tou)(tou)處于(yu)水(shui)平(ping)狀態鏡(jing)頭(tou)(tou)安裝在(zai)測(ce)(ce)(ce)桿(gan)一端，可(ke)(ke)以方便地(di)水(shui)平(ping)向(xiang)(xiang)前(qian)或垂直向(xiang)(xiang)上(shang)伸入到茂(mao)密的冠(guan)(guan)層(ceng)(ceng)中(zhong)，測(ce)(ce)(ce)桿(gan)一端的通迅線可(ke)(ke)聯接在(zai)計算機上(shang)，方便取(qu)圖操作由于(yu)小(xiao)巧和(he)帶有測(ce)(ce)(ce)桿(gan)，可(ke)(ke)伸入冠(guan)(guan)層(ceng)(ceng)不同高度處，快速地(di)進行分(fen)層(ceng)(ceng)測(ce)(ce)(ce)量(liang)，測(ce)(ce)(ce)出群體內(nei)光透過率和(he)葉(xie)面積指(zhi)數(shu)垂直分(fen)布圖，測(ce)(ce)(ce)桿(gan)上(shang)附帶有線性ＰＡＲ探頭(tou)(tou)，同時可(ke)(ke)測(ce)(ce)(ce)量(liang)冠(guan)(guan)層(ceng)(ceng)內(nei)外的光量(liang)子(zi)通量(liang)密度(μmol/㎡•S)值，該值可(ke)(ke)以做(zuo)為(wei)冠(guan)(guan)層(ceng)(ceng)內(nei)能量(liang)分(fen)析的參考值.

測量參數
葉面積指數
葉片平均傾角
散射輻射透過率                
不同太陽高度角下的直射輻射透過率
不同太陽高度角下的消光系數
葉面積密度的方位分布
用途與適用范圍
可測算植物冠層的太陽直射光透過率、天空散射光透過率、冠層的消光系數，葉面積指數和葉片平均傾角等，可用于農作物、果樹、森林內冠層受光狀況的測量和分析可用于不同植物群體結構的比較；可對農田作物群體生長過程進行動態監測適用于生態學野外植物群體動態監測的研究與教學；
也適用于農業、園藝、林業領域有關栽培、育種、植物群體對比與發展的研究與教學。
硬件參數
鏡頭角度：150°(或用戶自選180°鏡頭。除用戶有特殊需要，180°魚眼鏡頭經常不適合孔隙測量
原理與方法所假設的前提條件，用于冠層結構分析是不適宜和不經濟的)
分辨率：768×494pix
測量范圍：天頂角由0°～75°
PAR感應范圍：感應光譜400nm～ 700nm  測量范圍0～2000μmol/㎡•S
分析軟件：植物冠層分析系統
顯示和內存：決定于筆記本電腦的選擇。
電 源：鋰電池組
傳輸接口：USB
工作溫度：0～55℃
作物葉面積指數是描述作物冠層結構的一個重要參數，作物冠層直接影響著作物光合作用、蒸騰等關鍵生理過程，葉面積指數是許多作物生長模型、長勢評價模型、作物估產模型的重要參數。所以測量作物冠層具有重要的意義。
原理與方法
FS-2000植物冠層分析儀采用了冠層孔隙率與冠層結構相關的原理。它是根據光線穿過介質減弱的比爾定律，在對植物冠層定義了一系列假設前提的條件下，采用半理論半經驗的公式，通過冠層孔隙率的測定，計算出冠層結構參數。這是目前世界上各種冠層儀*采用的原理。在上述原理下， 植物冠層圖象分析儀采用的是對冠層下天穹半球圖像分析測量冠層孔隙率的方法，該方法是各類方法中較精確和省力、省時、快捷方便的方法。