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作物植物冠層分析儀

型    號: FS-PAR
報    價: 17800
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FS-PAR作物植物冠層分析儀可廣泛應用于農業生產和農業科研,為進行冠層光能資源調查,測量植物冠層中光線的攔截,研究作物的生長發育、產量品質與光能利用間的關系,本儀器用于400nm-700nm波段內的光合有效輻射(PAR)測量、記錄,測量值的單位是平方米?秒上的微摩爾(μmols㎡/秒)。

FS-PAR作物植物冠層分析儀的詳細資料:

FS-PAR作物植物冠層分析儀

▲ 儀器菜單操作簡單,體積小,攜帶方便。

▲ SD卡存儲容量大,數據管理方便。

FS-PAR作物植物冠層分析儀可廣泛應用于農業生產和農業科研,為進行冠層光能資源調查,測量植物冠層中光線的攔截,研究作物的生長發育、產量品質與光能利用間的關系,本儀器用于400nm-700nm波段內的光合有效輻射(PAR)測量、記錄,測量值的單位是平方米·秒上的微摩爾(μmols㎡/秒)。由于作物冠層測量儀主要測量作物葉片對光線的攔截,所以該儀器適用于比較低矮的作物,樹木等其他較高的植物,推薦使用FS-2000植物冠層圖像分析儀。

技術參數
測量范圍:0-3000μmol ㎡/秒
分辨率:1μmol ㎡/秒
響應時間:10μs                                  
自動采集間隔:1-99分鐘
自動采集次數:1-99次
數據存儲容量:2GB(標配SD卡)
儀器總長度:75 cm
探桿長度:50 cm
傳感器數量:25個(標配)
電源:2節5號電池
工作環境:0°C-60°C;100%相對濕度
應用范圍:
1.植物生長調節劑的評估
2.各種葉片病害的評估
3.實時監測除草劑的應用效果
4.用于土壤改善和肥力的研究
5.葉面施肥的研究
6.灌溉日程安排的研究
7.干旱對植物生長和產量的影響
8.不同基因型的特性
9.試驗地變異的評估
作物葉面積指數是描述作物冠層結構的一個重要參數,作物冠層直接影響著作物光合作用、蒸騰等關鍵生理過程,葉面積指數是許多作物生長模型、長勢評價模型、作物估產模型的重要參數。所以測量作物冠層具有重要的意義。



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